MTBF測(cè)試壽命試驗(yàn)CNAS授權(quán)，**藍(lán)亞技術(shù)對(duì)相關(guān)的MTBF檢測(cè)及相關(guān)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行授權(quán)，可以幫助企業(yè)輕松完成壽命試驗(yàn)，下面隨小編一起來看看更多詳細(xì)資料！

MTBF是一種研究產(chǎn)品壽命特性的方法，它可以在實(shí)驗(yàn)室模擬多種使用條件。生命測(cè)試是可靠性試驗(yàn)中的一個(gè)重要基礎(chǔ)項(xiàng)目，它是把產(chǎn)品置于特定的試驗(yàn)條件下研究其失效(損壞)隨時(shí)間而變化的規(guī)律。利用壽命試驗(yàn)，可了解產(chǎn)品的壽命特性、失效規(guī)律、失效效率、平均壽命及壽命試驗(yàn)中可能出現(xiàn)的各種失效模式。

如果結(jié)合失效分析，可以進(jìn)一步找出引起產(chǎn)品失效的主要機(jī)制，例如可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)測(cè)、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量、合理篩選、例行(批量保證)試驗(yàn)條件等。若要縮短試驗(yàn)時(shí)間，可在不改變破壞機(jī)理的條件下，采用增大應(yīng)力法，即加速壽命試驗(yàn)。用壽命試驗(yàn)評(píng)估產(chǎn)品的可靠性水平，通過質(zhì)量反饋，可提高新產(chǎn)品的可靠性。

適當(dāng)?shù)脑O(shè)備在合適的工作條件下，設(shè)備的失效率非常低。電子器件的使用壽命，與使用溫度有密切關(guān)系。計(jì)算機(jī)主板常用的也是經(jīng)常出現(xiàn)故障的電解電容器，其壽命將受溫度的影響。所以，應(yīng)該盡量使電容器在低溫下工作，如果電容器的實(shí)際工作溫度超出了它的規(guī)格范圍，那么它不僅壽命會(huì)縮短，而且還會(huì)嚴(yán)重?fù)p壞電容器(如電解液泄漏)。

生命測(cè)試(MTBF)分定時(shí)截尾試驗(yàn)和定數(shù)截尾試驗(yàn)，其估算方法有：平均壽命點(diǎn)估計(jì)、單側(cè)信函下估計(jì)、雙側(cè)間估計(jì)。

高壽命試驗(yàn)：高溫壽命試驗(yàn)是通過溫度電壓加速法，以較短時(shí)間的實(shí)驗(yàn)方式對(duì)IC產(chǎn)品的長期使用壽命進(jìn)行評(píng)價(jià)。

常用的生命周期試驗(yàn)有BI(Burn-in)/EFR(EarlyFailureRate)/HTOL(HighTemperatureOperatingLife)/TDDB(Timedependent***lectricBreakdown)，此外，還有相應(yīng)的測(cè)試方法和條件，例如HTGB(HighTemperatureGateBias)/HTRG(HighTemperatureReverseBias)/BLT(BiasLifeTest)/IntermittentOperationLife等等。

低壽命試驗(yàn)：低溫運(yùn)行壽命試驗(yàn)是用低溫和電壓加速方法，對(duì)該部件在低溫環(huán)境下的使用壽命進(jìn)行評(píng)估，其溫度工作壽命檢測(cè)GJB899-2009。

MTBF測(cè)試壽命試驗(yàn)CNAS授權(quán)機(jī)構(gòu)，以上有關(guān)壽命試驗(yàn)內(nèi)容，針對(duì)不同的產(chǎn)品做不同的MTBF測(cè)試。

適用范圍：適用于所有客戶對(duì)MTBF有要求的數(shù)字相機(jī)產(chǎn)品量產(chǎn)前驗(yàn)證。

本期藍(lán)亞小編orange,關(guān)于MTBF測(cè)試壽命試驗(yàn) CNAS授權(quán)機(jī)構(gòu)的知識(shí)就介紹到這，想要獲取更多關(guān)于MTBF測(cè)試的有關(guān)內(nèi)容，請(qǐng)您關(guān)注藍(lán)亞，我們將持續(xù)為您解答~ ，您這邊有任何疑問也可以主頁留言或者聯(lián)系下方專業(yè)人士為您服務(wù)，希望對(duì)大家有所幫助。